孙余凯 吴鸣山
1.接收和可编程锁相环及语言压缩扩展电路ジ玫缏酚蒁UP双工滤波器、VT1高放管、ICV1(T31224)复合集成电路相关元件构成。手机射频电路如图所示。
(1)天线输入及高放电路 主机发出的已调制信号f=［45.25+0.0025(X-1)MHz (X=1、2…10)。由手机ANT1天线接收→L9→DUP双工滤波器ANT端，滤波分离后从RX端输出→C1电容耦合→VT1放大后的高频信号经T1选频→C3电容→ICU1的40脚内第一混频电路。
(2)第一本振电路该电路由ICU1的44、43脚及T2第组成，其振荡频率受微电脑ICU3的19～21脚输出经ICU1 8、6、7脚进入的锁相环编程信号的控制。该信号经对IC内的发射计数器、接收计数器、参考计数器、辅助参考计数器进行编程处理后从46脚输出→C13、R5、C12、C11、R4积分(低通滤波)→ICU1的42脚内本振变容二极管负极，这一变化的电压使变容二极管结电容发生变化，以使本振频率得到改变。T2和9为第一本振谐振回路元件，本振电路产生的信号也送给第一混频电路。
(3)第一混频电路 在第一混频电路中，本振信号与高频信号进行混频，得到的10.7MHz第一中频信号从38脚输出→CF1陶瓷滤波器滤波→C10电容耦合→ICU1的36脚进入IC内第二混频电路。
(4)第二本振电路 ICU1 3、4脚及C41、X1、VC1、C43、C42组成了第二本振电路，本振频率为10.245MHz，由X1晶振频率确定，产生的振荡信号加到第二混频电路。
(5)第二混频电路 第一中频与第二本振信号在第二混频电路中进行二次混频，差拍出的455kHz第二中频信号从34脚输出，经CF2滤波后从32脚又进入集成电路内。
(6)中放及鉴频电路 从32脚输入的信号经中频限幅放大、鉴频、解调出的复合信号(含语音信号、密码校验、变换信道、振铃信号)从27脚输出，经R10电阻后分为两路。
(7)音频信号 从ICU1的27脚输出的音频信号，经C33电容耦合→RP3进行幅变调整→ICU1的15脚内，经IC内预放电路，扩展电路，放大电路处理后从17脚输出→C31电容→R19电阻→10脚内，经功率放大后从20脚输出→C46电容→驱动E耳机发声。
(8)接收数据信号 从ICU1的27脚输出的接收数据信号，经R10电阻→ICU1的24脚，经IC内放大电路放大，并对数据进行处理后从23脚输出→微处理器ICU3的24脚内进行处理。
2.调制发射电路
(1)组成调制发射电路由ICU1内的发射锁相环电路振荡电路(VT4)、缓冲放大电路(VT3)、功率放大电路(VT2)及T4～T6、VD1等构成。
(2)信号流程当手机向主机发送信号时数据信号从ICU3微处理器4脚输出，经R30电阻加至VD1变容二极管正极调频；同时ICU1的9脚输出的数据信号也加至VD1正极(经R31)进行调频。
调制振荡器由VD1、C49、C50、C51、C52、T6、R35、VT4等构成，属电容三点式振荡器，它的振荡频率同样也受到来自锁相环数据信号的控制。
当VT4启振后，其发射极输出的调制振荡信号经C44电容耦合→ICU1的1脚内，与IC内部参考频率进行比较，从47脚输出锁相发射压控电压，该电压再经C14、R6、R7、C16、C15积分滤波后→R34电阻→VD1负极，使VD1的结电容发生改变，进而改变调制振荡器的振荡频率，使其稳定。调制振荡器产生的待发射信号经C54电容耦合→VT3管基极进行缓冲放大→T5进行选频→C58电容耦合→VT2管基极进行功率放大→T4进一步选频→DUP双工器的RX端，经滤波分离后从ANT端输出→L9→ANT1天线向外发射。
3.主要故障现象分析与排除
（1）不能对码
(a)检查接收电路手机与主机不能对码，排除手机供电问题后，可按压主机对码键，并用示波器测手机ICU1的38脚是否有10.7MHz频率波形输出。若无，应检查天线输入及高放和第一本振电路元件；同时还应检查46脚上的控制电压是否正常。与该电压有关的还有42～44脚以及来自微电脑ICU3的19～21脚的锁相环信号。对高放级应重点检查L1、双工滤波器DUP、C1、C3、T1选频回路。若测得ICU1的38脚波形正常。再检查32脚上的455kHz第二中频信号波形是否正常。如异常，应检查X1是否起振，CF2及第二本振，CF2及第二本振电路中VC1、C41～C43等是否正常。
(b)检查发射电路。先应检查VTS是否导通为发射电路供电；其次可依次检查VT2～VT4各极波形来确定故障点。但这是在确认微电脑正常后进行的。如微电脑不正常，应检查其供电及时钟振荡、复位电路。
（2）手机无送话
当主机能正常摘机而手机无送话，这种情况说明手机微电脑及调制解调电路无问题，故障仅出在送话器M以及语音压扩处理电路。
检修时，可测量M两端的2V以上电压是否正常，无电压或电压偏低，应检查R23、R52电阻是否变值，C36、C33电容有无漏电，M本身是否损坏，C35电容、R24电阻是否失效。若测得M两端电压无问题，应检查R26、C38、C39、R27、R31、C48各元件。若均无问题，则为ICU1集成块内电路有局部损坏，可通过测其脚在路电阻作进一步判断。ICU1集成电路正常工作参数如表1所列。
（3）手机无受话
首先应检查受话器E是否损坏，C46电容是否开路或虚脱焊。当确认主机能摘机时，说明手机的解调电路输出是正常的，应检查C33电容、RP3可调元件有无开路，R20、C32、C31、R19、R18、C45是否有损坏。如均无问题，则为ICU1内局部有损坏。
